نقشه برداری از سطوح شیمیایی مریخ با طیف سنجی پیشرفته

به گزارش خبرگزاری مهر، این طیف سنج که از سوی دانشمندان دانشگاه جان هاپکینز آمریکا ساخته شده دارای ضریب شفافیت نسبی تا 100 برابر سیستم های تصویربرداری ساخته شده برای مریخ است.

این طیف سنج که هم اکنون در مدارگرد شناسایی کننده مریخ فعال است به جز نقشه برداری از ترکیبات شیمیایی مختلف این سیاره، از سطوح آن نیز تصویربرداری می کند.

بر اساس گزارش تکنولوژی ریویو، این وسیله با ضریب شفافیت بالا به دانشمندان کمک می کند تا از صخره های رسی مریخ که هیچگاه در تیررس سایر تجهیزات شناسایی کننده وجود نداشته اند، درک روشن تری داشته باشند.

هم اکنون دانشمندان با بررسی دقیق سطوح مختلف این سیاره تلاش می کنند تا مکان مناسبی برای فرود آوردن رصدخانه علمی مریخ پیدا کنند. قرار است این رصدخانه سال 2009 به مریخ پرتاب شود.