به گزارش خبرگزاری مهر، در سال 1990 برای اولین بار یک ساختار در مقیاس نانومتری یک اتم در اتم روی یک سطح مورد اندازه گیری قرار گرفت. هدف از این اقدام، ترکیب دو تکنیک مهم و اصلی اسکن میکروسکوپی اثر تونل (STM) و نیروی اتمی میکروسکوپی (AFM) با مواد در مقیاس نانو متری بود.
سالهای بعد از آن امکان دستکاری مهندسی اجسام در مقیاس اتمی و به خصوص ایجاد پیوندهایی برای شکل گیری یک مولکول، ساخت دری منطقی و کنترل واکنشهای شیمیایی فراهم شد.
جدیدترین تکنیکهایی که در این عرصه ارائه شده است، تکنیک AFM است که برای دستکاری اتمها در دمای سرد و برای ایجاد نانوساختارهای پیچیده اتم در اتم در دمای محیط استفاده می شود.
به علاوه با استفاده از این دو تکنیک، مکانیزمهای دستکاری اتمها نیز مورد بررسی قرار می گیرد.
در این راستا، به تازگی گروهی از محققان مرکز تحقیقات "آی بی ام" با همکاری دانشمندان پلی تکنیک فدرال در لوزان سوئیس، دانشگاه رگنسبرگ در آلمان و دانشگاه کالج لندن موفق شدند نیروهای جانبی و قائم مورد نیاز برای جابجایی یک اتم را روی یک سطح اندازه گیری کردند.
این دانشمندان که نتایج تحقیقات خود را در مجله "ساینس" منتشر کرده اند، نشان دادند که نیروی لازم برای جابجایی یک اتم کبالت روی سطح یک شبکه بلوری پلاتین- 111 حداقل برای شاخصهای فاصله میان اتم و سطح مورد بررسی مستقل از نیروی قائم است.
نتایج این تحقیقات کاربردهایی در عرصه بیوتکنولوژی در مقیاس نانومتری دارد.
نظر شما