به گزارش خبرگزاری مهر، دکتر سعید جلالی اسدآبادی عضو هیئت علمی گروه فیزیک دانشگاه اصفهان در این باره گفت: در مطالعات نظری قبلی اثر زیرلایه سیلیکون بر خواص فیزیکی سخت افزارهای کامپیوتری، نادیده گرفته شده بود در حالی که در این پژوهش اثر این زیرلایه مهم ارزیابی شده است. علاوه بر این اثرات اندازه کوانتمی در لایه های نازک سرب روی زیرلایه سیلیکون با استفاده از نظریه تابعی چگالی مورد بررسی قرار گرفت و نشان داد که چگونه تغییر ضخامت لایه ها در ابعاد نانو می تواند بر خواص فیزیکی دستگاه اثر بگذارد.
وی به نحوه انجام این پژوهش اشاره کرد و افزود: در این پژوهش کلیه محاسبات در چارچوب نظریه تابعی چگالی با استفاده از روش امواج تخت بهبود یافته خطی به علاوه اوربیتال های موضعی انجام شده است. به این ترتیب که ابتدا زیرلایه سلیکون با استفاده از روش ابر سلول شبیه سازی و سپس لایه های نازک سرب روی آن نشانده شد.
جلالی ادامه داد: پس از شبیه سازی کامل لایه های نازک و زیرلایه، محاسبات کمیت های مختلف فیزیکی یک بار با وجود زیرلایه سلیکون و بار دیگر بدون در نظر گرفتن زیرلایه سلیکون انجام و به این ترتیب اثر زیرلایه بر تاثیرات کوانتمی اندازه آشکارسازی شد.
این محقق با اشاره به نتایج این تحقیق اظهار داشت: اثر زیرلایه روی لایه های نازک هنگامی قابل صرف نظر کردن است که قدرت پیوند اتم های زیرلایه با اولین لایه نازک در سطح مشترک قابل مقایسه با قدرت پیوند لایه های نازک بالاتر با یکدیگر باشد. از سوی دیگر نتایج حاکی از آن است که اثر زیرلایه سلیکون در بررسی برخی از کمیت های فیزیکی حایز اهمیت است و قابل چشم پوشی نیست.
نظر شما